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집속 이온빔 시장 보고서 : 이온원, 용도, 최종 용도, 지역별(2025-2033년)
Focused Ion Beam Market Report by Ion Source, Application, End Use, and Region 2025-2033
상품코드 : 1722596
리서치사 : IMARC
발행일 : 2025년 05월
페이지 정보 : 영문 150 Pages
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한글목차

집속 이온빔 세계 시장 규모는 2024년 11억 240만 달러에 달했습니다. 향후 IMARC Group은 2033년까지 시장이 17억 6,600만 달러에 달할 것으로 예상하며, 2025-2033년 연평균 성장률(CAGR)은 5.38%에 달할 것으로 예측합니다.

집속 이온빔(FIB)은 고도로 집속된 이온빔을 사용하여 구조물의 부위별 분석, 증착, 제거를 수행하는 첨단 기술입니다. 투과형 전자현미경(TEM) 시료의 신속한 준비, 빔 감응성 재료의 평가, 3차원(3D) 단층 촬영, 마이크로 전기기계 시스템(MEMS) 제조 등에 널리 이용되고 있습니다. 또한, 스퍼터링 공정을 통해 시료 표면을 직접 개질하는 데에도 사용되고 있습니다. 이온빔의 강도와 에너지를 제어하여 미세한 부품을 제작하거나 불필요한 물질을 제거하는 나노 가공을 고정밀도로 수행할 수 있습니다. 최근 FIB는 높은 공간 분해능으로 시료의 이미징과 개질을 가능하게 하여 큰 호응을 얻고 있습니다.

집속 이온빔 시장 동향:

FIB 시스템은 시료의 표면 전체에 패턴을 형성하는 이온빔 리소그래피 공정에 널리 사용되고 있습니다. 그 결과, 기계적 특성 검사, 고해상도 구조 분석, 힘의 상호 작용 결정 등 FIB의 용도가 증가하고 있는 것이 시장 성장의 주요 요인으로 작용하고 있습니다. 이 외에도 현미경 및 시료 제작 도구로 재료 과학 분야에서 널리 채택되고 있는 것도 성장을 촉진하는 큰 요인으로 작용하고 있습니다. 또한, 전자 및 반도체 산업에서 고장 분석에 대한 수요도 크게 증가하고 있습니다. 이는 나노패브리케이션 분야에서 FIB의 활용 확대와 함께 제품 수요의 촉매제 역할을 하고 있습니다. 또한, 재료 과학 및 생체 재료 분야에서 진행 중인 연구 개발(R&D) 활동은 시장 플레이어에게 유리한 성장 기회를 제공하고 있습니다. 또한, 주요 제조업체들은 정확한 나노스케일 측정을 용이하게 하는 혁신적인 FIB 시스템을 출시하여 시장 성장에 기여하고 있습니다. 새로운 이온 소스의 도입, 기술 발전, 회로 편집 애플리케이션의 부상과 같은 다른 요인들도 향후 몇 년 동안 시장 전망을 밝게 만들 것으로 예상됩니다.

본 보고서에서 다루는 주요 질문

목차

제1장 서문

제2장 조사 범위와 조사 방법

제3장 주요 요약

제4장 소개

제5장 세계의 집속 이온빔 시장

제6장 시장 내역 : 이온원별

제7장 시장 내역 : 용도별

제8장 시장 내역 : 최종 용도별

제9장 시장 내역 : 지역별

제10장 SWOT 분석

제11장 밸류체인 분석

제12장 Porter's Five Forces 분석

제13장 가격 분석

제14장 경쟁 구도

ksm
영문 목차

영문목차

The global focused ion beam market size reached USD 1,102.4 Million in 2024. Looking forward, IMARC Group expects the market to reach USD 1,766.0 Million by 2033, exhibiting a growth rate (CAGR) of 5.38% during 2025-2033.

The focused ion beam, or FIB, refers to an advanced technique that uses a highly focused beam of ions for site-specific analysis, deposition, and removal of structures. It is extensively utilized for rapid preparation of transmission electron microscope (TEM) sample, evaluation of beam-sensitive materials, three-dimensional (3D) tomography, and fabrication of micro-electromechanical systems (MEMS). It is also employed to modify the specimen surface directly through the sputtering process. The intensity and energy of the ion beam can be controlled to perform nano-machining with high precision to create minute components or remove unwanted materials. In recent years, FIB has gained immense traction as it enables the imaging and modification of a specimen with high spatial resolution.

Focused Ion Beam Market Trends:

FIB systems are extensively used in the ion beam lithography process for producing patterns across the surface of samples. As a result, the increasing FIB applications for examining mechanical properties, analyzing high-resolution structures, and determining force interactions represents the primary factor driving the market growth. Besides this, the widespread product adoption in material science as a microscope and specimen preparation tool represents another major growth-inducing factor. Additionally, there has been a significant rise in the demand for failure analysis in the electronics and semiconductor industries. This, in line with the growing usage of FIB in nanofabrication applications, is catalyzing the product demand. Furthermore, the ongoing research and development (R&D) activities in the field of material science and biomaterials are offering lucrative growth opportunities to the market players. Moreover, the leading manufacturers are launching innovative FIB systems to facilitate accurate nanoscale measurements, thereby contributing to the market growth. Other factors, including the introduction of new ion sources, technological advancements, and emerging circuit editing applications, are also anticipated to create a positive market outlook in the upcoming years.

Key Market Segmentation:

Breakup by Ion Source:

Breakup by Application:

Breakup by End Use:

Breakup by Region:

Competitive Landscape:

The competitive landscape of the industry has also been examined along with the profiles of the key players being A&D Company Limited, Carl Zeiss AG, Eurofins Scientific, Fibics Incorporated, Hitachi Ltd., JEOL Ltd., Raith GmbH, Tescan Orsay Holding A.S., Thermo Fisher Scientific, Waters Corporation and zeroK NanoTech Corporation.

Key Questions Answered in This Report

Table of Contents

1 Preface

2 Scope and Methodology

3 Executive Summary

4 Introduction

5 Global Focused Ion Beam Market

6 Market Breakup by Ion Source

7 Market Breakup by Application

8 Market Breakup by End Use

9 Market Breakup by Region

10 SWOT Analysis

11 Value Chain Analysis

12 Porters Five Forces Analysis

13 Price Analysis

14 Competitive Landscape

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